SC-E型種子大米外觀品質檢測儀
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SC-E型種子大米外觀品質檢測儀
詳細說明
技術參數： 1.快速形態分析：40秒內自動精準分析測出每粒種子的各面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.1mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現性誤差≤±0.02mm），自動獲得每粒種子的外觀形狀參數，以及千粒重、大米整精米粒數、整精米率（30g樣本的測量誤差≤±1.0%，重現性誤差≤±0.25%）、堊白度、堊白粒率（30g樣本的測量誤差≤±1.0，重現性誤差≤±0.5）、大米透明度（30g樣本的測量誤差≤±5.0%，重現性誤差≤±0.5%）、碎米率、不完善粒（黃粒米、未成熟粒、雜質）?？勺詣臃指钫尺B種子、自動剔除微小雜質和錯誤目標，可選擇區域統計。稻種等的考種計數正確率，經極快速地可視化驗證后，可達100%正確。 2.具有對被分析目標顏色、形狀進行自動學習，并實現自動分類的特性。可任意組合的批操作向導，實現一鍵自動完成計數與各項分析，并實現鼠標增減統計、區域選擇統計、輔助裁剪修正、種子粘連分割、輸入重量后自動換算出千粒重 等；可裁剪或擦除掉污染目標區，刪除任意區域內的誤選種子。可合并誤分割，以及對自動識別后的黃米粒和其它目標做類別轉換修正。 3．測量功能： 尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正； 長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量； 可以單獨進行目標的長度測量 4．數據存儲：圖像可保存（可保留原圖/結果圖）；自動形成總報表，統計分析結果能輸出至Excel表； 5．儀器規格與配置： 專配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800真彩雙光源掃描儀（電腦另配）； 更多>產品答疑
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