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UVIKON XS紫外分光光度計
產品編號: 77393
產品: UVIKON XS紫外分光光度計 
品牌: 美國
型號: Array
規格: UVIKON XS紫外分光光度計
單價: 面議
供貨總量: 庫存充足
貨源周期: 現貨
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2020-12-18 17:10
 
詳細說明
 儀器介紹:

由美國UNICO母公司設計。產品已通過ISO9001質量體系認證、國內的計量合格認證和英國dB Technology測試中心CE認證。 

光譜掃描

A:掃描間隔:0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0nm 
B:掃描區間可任意輸入 
C:高、中、低三檔掃描速度可自選 
D:坐標參數、掃描次數、T/A/E模式皆可自選 
E:有尋找波峰、谷功能

動力學測試

A:最小采樣間隔0.5秒,最大運行時間9小時 
B:可設定延時時間、運行時間、采樣時間間隔 
C:T/A模式轉換 
D:有計算功能

多波長測試

A:測試波長點多達10個 
B:測試樣品3-8個

建立標準曲線、定量測試

A:單波長法、等吸收點雙波長法和三點法 
B:可做一階過零、不過零線性回歸和二階、三階曲線擬合

DNA/Protein測試

A:可手動、自動測試,測試波長缺省值為260nm、280nm和320nm
B:可計算DNA、Protein和Ratio比率

其它功能

A:波長校準 
B:光度精度復核 
C:波長精度復核 
D:能量最大點尋找(用于微量測試) 
E:可直接連接HP和Epson打印機打印實驗數據和圖譜。

技術參數:

光學系統

  雙光束,1200條/毫米衍射光柵

波長范圍

  190-1100nm

波長精度

  ±0.3nm

波長重復性

  0.1nm

光度范圍

  0-200%T, -0.3-3.0A, 0-9999C(0-9999F)

光度精度

  ±0.3%T

雜散光

  ≤0.05%T在220nm和340nm處

帶寬

  1.8nm

穩定性

  ±0.001A/h(500nm,預熱后)

基線平直度

  ±0.002A

顯示

  320×240圖形液晶顯示器

數據輸出

  RS-232C串口,USB接口,Centronics并口

打印機接口

  并行口

外形尺寸

  620×405×280(mm)

重量

  24kg

配置

玻璃比色皿  兩套,玻璃比色皿1套(4個);石英比色皿,1套(2個)

軟件1套,加密口1個,主機1個,比色皿架子,連接線一根,儀器說明書和軟件說明書各一本。

UVIKON XS紫外分光光度計
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