德國palas MFP Nano plus 4000過濾介質(zhì)測試系統(tǒng)納米顆粒測量設(shè)備
> Palas?的MFP過濾器測試臺已經(jīng)在開發(fā)和質(zhì)量控制的實際應(yīng)用中在世界各地經(jīng)過多次驗證。
>MFP Nanoplus 4000專門設(shè)計用于根據(jù)DIN EN 1822-3和ISO 29463-3標(biāo)準(zhǔn)精確地測定HEPA和ULPA過濾介質(zhì)的分離效率。
>本設(shè)備是一種現(xiàn)代且功能強大的納米顆粒測量設(shè)備，以U-SMPS形式，進行5 nm到1 μm范圍粒度測量和數(shù)值分析。
>使用MFP Nanoplus 4000和UF-CPC冷凝粒子計數(shù)器在原始?xì)怏w和清潔氣體中實時測量特定尺寸的分離效率。
>MFP Nanoplus 4000餾分分離效率的實時測量具有以下特殊優(yōu)勢:
- ■通過測量原始?xì)怏w和清潔氣體中的顆粒濃度，可將確定餾分分離效率的測量時間減半。
- ■ 結(jié)合兩種UF-CPC版本，UF-CPC在原料氣中的最高測量濃度可達2,000,000顆粒/立方厘米（單計數(shù)模式），而UF-CPC 50在潔凈氣體低濃度下的最高計數(shù)率對應(yīng)于稀釋系數(shù)為1：200。因此，不再需要常規(guī)的氣溶膠稀釋。
>借助通用氣溶膠發(fā)生器UGF 2000，可以使用DEHS或鹽（NaCl / KCl）生產(chǎn)與MMPS范圍相匹配的氣溶膠分布。
>測試序列的高度自動化設(shè)置以及清晰定義的單個組件和濾波器測試軟件FTControl的可單獨調(diào)整程序，共同提供高度可靠的測量結(jié)果。
>MFP過濾器測試臺是用于扁平過濾器介質(zhì)和小型微型過濾器的模塊化過濾器測試系統(tǒng)。可以在很短的時間內(nèi)確定壓力損失曲線、餾分分離效率或負(fù)荷，既可靠又具有成本效益。
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>我們的質(zhì)量細(xì)節(jié)
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- ■1.使用UGF 2000產(chǎn)生多種氣溶膠，用于KCl/NaCl或DEHS。集成的Nafion干燥系統(tǒng)。通過質(zhì)量流量控制器單獨調(diào)節(jié)產(chǎn)生的煙霧體積流量。
- ■2.氣溶膠中和：Kr-85-370電源或軟X射線充電器XRC 370電暈放電（可選）：可調(diào)節(jié)的離子流適用于不同的質(zhì)量流量。混合空氣，可調(diào)節(jié)流入速度為1.5至40厘米/秒。通過質(zhì)量流量控制器實現(xiàn)監(jiān)視和控制。
- ■3.可移動的氣動過濾器支架，用于快速拆卸和裝載帶有集成式DEMC 2000（差動遷移分類器）的試驗臺。 U-SMPS包含的DEMC 2000（差分電遷移率分類器）對UGF 2000產(chǎn)生的多分散氣溶膠粒徑進行分類。在DEMC 2000的下游僅包含單分散顆粒。DEMC 2000自動調(diào)節(jié)相關(guān)粒徑控制單元。
- ■4.使用UF-CPC 200進行高濃度原始?xì)怏w測量。為了測量原始?xì)怏w中的顆粒數(shù)，UF-CPC 200冷凝顆粒計數(shù)器在單計數(shù)模式下被用于計數(shù)高達2,000,000個顆粒/立方厘米的顆粒。這意味著在極高濃度原始?xì)怏w測量中不需要稀釋系統(tǒng)。無需長時間或復(fù)雜地清潔系統(tǒng)。
- ■5. 使用UF-CPC 50對低濃度進行清潔氣體數(shù)值分布測量“全流量” UF-CPC 50，針對清潔氣體中的低顆粒濃度（單計數(shù)模式，最大10,000個顆粒/ cm3）進行了優(yōu)化。 在UF-CPC的“全流量”顆粒測量中,對整個采樣體積流量進行了全面分析。這意味著在清潔氣體中低顆粒濃度下可以實現(xiàn)很高的計數(shù)率。
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>Palas?過濾器測試軟件FTControl控制U-SMPS并評估數(shù)據(jù)。
>將氣溶膠分布調(diào)整到MPPS范圍
>通過適當(dāng)調(diào)整溶液濃度，可以將生成的粒度分布與MFP Nano + 4000中的相關(guān)MPPS范圍相匹配。
圖1：使用DEHS調(diào)節(jié)所需MPPS范圍的粒徑
圖2：在>=140 nm的MPPS范圍內(nèi)的餾分分離效率比較。
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- ■ 清晰展示整個測量范圍內(nèi)過濾介質(zhì)的分離效率。
- ■ 精確測定MPPS范圍。
- ■ 最高的測量重現(xiàn)性和可重復(fù)性突顯分離效率的微小差異。
- ■優(yōu)化的氣溶膠應(yīng)用，使每次分離效率測量的測量時間短至兩分鐘。
- ■ 分離效率曲線的簡單比較，也可以計算平均值
德國palas過濾介質(zhì)測試系統(tǒng)納米顆粒測量設(shè)備:應(yīng)用領(lǐng)域
- ■在產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)監(jiān)控中對過濾介質(zhì)和小型迷你過濾器進行測試
- ■試驗可行性根據(jù)DIN EN 1822-3 (HEPA / ULPA) 和ISO 29463-3
- ■對其他范圍在約20nm到1μm的過濾介質(zhì)進行分離效率測量
>自動化：
>MFP Nano + 4000集成質(zhì)量流量控制器，用于控制體積流量；可以通過FTControl過濾器測試軟件進行自動監(jiān)視和控制。
>在過濾器測試期間，還會自動記錄傳感器數(shù)據(jù)，例如過濾器的體積流量和壓差。
>驗證原始?xì)怏w和清潔氣體中的采樣是否合格：在初始培訓(xùn)過程中，將演示未經(jīng)過濾的原始?xì)怏w和清潔氣體測量符合性驗證。
>使用MFP Nano + 4000，可以在MPPS范圍內(nèi)以及整個測量范圍內(nèi)進行餾分分離效率測量。另外，在相關(guān)的流入速度下清楚地確定介質(zhì)的相關(guān)壓力損失。
德國4000過濾介質(zhì)測試系統(tǒng)納米顆粒測量設(shè)備:優(yōu)點
- ■實時測定10 nm以上顆粒的餾分分離效率
- ■ 通過測量原始?xì)怏w和清潔氣體中的顆粒濃度，可將確定餾分分離效率的時間減少一半。
- ■無需稀釋！
- ■結(jié)合兩種UF-CPC版本，UF-CPC在原始?xì)怏w中的最高測量濃度可達2,000,000顆粒/立方厘米（單計數(shù)模式），而UF-CPC 50在低濃度潔凈氣體中的最高計數(shù)率對應(yīng)于稀釋系數(shù)為1：200。
- ■符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3的國際可比較的測量結(jié)果
- ■方便地使用不同的測試氣溶膠，例如NaCl / KCl或DEHS（其他可根據(jù)要求提供）
- ■方便地測量餾分分離效率并確定MPPS范圍
- ■幾乎不需要維護
- ■測試方法的高重復(fù)性
- ■ 靈活的過濾器測試軟件FTControl
- ■ 易于操作，即使未經(jīng)培訓(xùn)的人員也可以快速使用設(shè)備進行操作
- ■ 客戶可以獨立進行清潔
- ■設(shè)置時間短，吞吐時間快
- ■可移動設(shè)置，易于在腳輪上移動
- ■ 在交付前驗收測試和交付時明確驗證各個組件和系統(tǒng)的功能
- ■運行可靠
- ■減少您的運營費用
德國palas MFP Nano plus 4000過濾介質(zhì)測試系統(tǒng)納米顆粒測量設(shè)備:規(guī)格參數(shù)
| 測量范圍（尺寸） | U-SMPS 2050: 10 – 800 nm |
| 體積流量 | 0.48 – 5.76立方米/小時（加壓模式） |
| 外型尺寸 | 大約 600?1,800?900毫米（寬?高?深） |
| 電源 | 115/230 V, 50/60 Hz |
| 流入速度 | 1.3 – 16厘米/秒（其他可根據(jù)要求提供） |
| 壓差測量 | 0 – 2,500 Pa（其他可根據(jù)要求提供） |
| 介質(zhì)測試區(qū) | 100平方厘米 |
| 氣溶膠 | 粉塵（例如SAE灰塵），鹽（例如NaCl，KCl），液體氣溶膠（例如DEHS） |
| 壓縮空氣供應(yīng) | 6 – 8 bar |
