UTX720B X熒光光譜儀
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UTX720B X熒光光譜儀
詳細說明
一、應用領域
UTX720B 是一款經濟、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀，適用于： 五金、接插件、電氣連接器電鍍，PCB電鍍，塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍；合金材料微量成分分析；黃金首飾等貴金屬分析；鍍液主鹽及微量雜質分析。 檢測電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等鍍層厚度。 電子元器件多鍍層測厚。 通過元素分析和鍍層測厚來證實電子產品可靠性。 一般材料分析，電鍍液的濃度分析。 二、產品特點 1、無損分析，所測樣品不需要復雜的準備工作； 2、從Al13到U92的快速元素分析、金屬鍍層厚度檢測； 3、可全天候工作，堅固耐用; 4、不需要具備專業知識，僅需常規培訓即可操作; 5、測量時間短，每個測量只需10-60秒； 6、檢測靈敏度0.01%到100%；鍍層0.01um到35um; 7、20 倍彩色CCD系統用于樣品圖像觀察; 8、硅-PIN半導體探測器，無需液氮; 9、機械結構簡單，可靠; 10、FP基本算法軟件; 11、靈活的應用分析軟件。 三、技術指標 產品執行標準 DIN50987，ISO3497，ASTMB568 測試原理 EDXRF能量色散X熒光光譜法 測量樣品 固體、液體、粉末 功能 單鍍層和多鍍層測厚與元素分析 最多可分析6層（不包括基層） 鍍液成份分析 高壓發生器 輸入電壓 24VDC±10% 輸出電壓 0-50kV 輸出電流 0-2.0mA 輸出精度 0.01% X射線管 X射線管靶材 W靶 X射線管窗口 Be窗 電氣參數 50W, 4-50kV, 0-1000uA 冷卻方式 油冷卻 X射線照射方向 從上往下 ↓ 照射范圍 Φ 0.1mm 使用壽命 15000-20000h 探測器 探測器類型 硅-PIN半導體探測器 元素分析范圍 Al13-U92 能量分辨率 FWHM<145eV 探測窗口 鈹窗，窗口面積：25mm2 冷卻方式 熱電制冷 鍍層測厚與元素分析指標 元素分析范圍 Al13-U92 測厚范圍 0.01—35 um 第一層精密度/準確度 相對標準差5%以下（厚度大于0.5um時） 相對標準差3%以下（厚度大于8um時） 第二層精密度/準確度 相對標準差10%以下（厚度大于0.5um時） 測量時間 10-60s 譜處理系統 處理器類型 全數字化32-bit DSP 譜通道數 256，512，1024，2048可供選擇 計數率 大于100000cps 能量范圍 500eV-40960eV 死時間 <3% 光路系統和樣品觀測 準直器系統 單一固定準直器Φ 0.1mm 對焦系統 鐳射激光對焦 樣品觀察系統 300萬像素高清CCD攝像頭，20倍光學變焦 樣品室 樣品室內部空間 （寬×高×深）：455×60×430mm 樣品臺尺寸 （寬×深）：250×275mm 樣品臺承載重量 ≤5kg 試驗樣品最大尺寸 寬×高×深：440×50×410mm 樣品臺控制方式 三維電動樣品臺 工作臺移動技術數據 X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm 工作臺移動精度 0.005mm 計算機和軟件 控制計算機 聯想品牌機，2G內存，500G硬盤驅動 顯示器 聯想19寸LCD顯示器 操作系統 Windows XP 報告結果 Word、Excel格式 軟件 鍍層測厚軟件、元素分析軟件 軟件類型 FP基本參數法軟件 軟件語言 簡體中文、繁體中文、英文、其它 譜顯示 自動峰定性，KLM標記，譜重迭比較 譜處理 總強度，凈強度，背景強度；全面積，凈面積，多元素擬合，高斯擬合 資料分析 基本參數，基本譜圖，無標樣測試，峰位修正，底材修正。 重量和尺寸 設備主體尺寸 寬×高×深：W 503×H 635×D 790mm 主體重量 約80kg 使用環境 工作環境 溫度15-25℃，濕度40-70%RH 電源系統 單相220V±10%，6A.工作電壓在允許范圍內 其它 1. 不要靠近產生強磁場，電場，高頻等裝置；2. 減少振動3. 粉塵少，濕度低，無腐蝕性氣體；4. 日光不能直射；5. 作為地震的對策，要考慮裝置的固定。 更多>本企業其它產品
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