性能指標(biāo)：

1.離子源

離子化模式：EI

離子化電壓：5 eV ～ 100 eV

離子源溫度：150–350 °C
燈絲：雙燈絲結(jié)構(gòu)

惰性等溫陶瓷離子源

維護(hù)簡(jiǎn)單，清洗離子源，只需從真空腔體前抽出，而且離子源上接線數(shù)量少（3根）。可直接更換燈絲，無需拆解離子源。

2.質(zhì)譜

質(zhì)量分析器：S型預(yù)過濾器完全消除光子和中子，并且引導(dǎo)離子無損失地進(jìn)入四極桿。最先進(jìn)設(shè)計(jì)的高精度四極桿質(zhì)量過濾器根據(jù)它們的質(zhì)／荷比有效地分離離子。

m/z范圍：2-1200 amu

靈敏度：

儀器檢出限（IDL）:

質(zhì)量軸穩(wěn)定性：優(yōu)于0.10amu /48h

最大掃描速度：可達(dá)20,000 amu/s

傳輸線溫度：最高溫度350℃

射頻電源:1.0MHz

電路板模塊的互換性。

3.檢測(cè)器

擁有在低電壓下工作的高能打拿極和長(zhǎng)壽命電子倍增器的三軸檢測(cè)器。

線性動(dòng)態(tài)范圍 >5*10^6

4.真空系統(tǒng)

分子渦輪泵：渦輪分子泵，抽速85L/s、300L/s可選

前級(jí)機(jī)械泵：Edwards機(jī)械泵,抽速1.5 m3 /h

5.數(shù)據(jù)系統(tǒng)

軟件：PANNA Maestro操作分析軟件，中/英文可選。

模式：SCAN、SIM。

應(yīng)用調(diào)諧：一鍵式自動(dòng)調(diào)諧（BFB、DFTPP）。

譜庫(kù)：NIST, Wiley/NIST, Maurer/Pfleger/Weber, Rosner。

解卷積：復(fù)雜基質(zhì)中的痕量化合物的定性與定量的專有集成解卷積算法。

數(shù)據(jù)資源管理工具：一組測(cè)量數(shù)據(jù)快速瀏覽，手動(dòng)提取譜圖和離子色譜圖。

測(cè)量數(shù)據(jù)批量處理：多個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的批處理，用戶自定義批處理。

自動(dòng)積分工具-解卷積工具：從質(zhì)譜圖中提取化合物譜的列表。

導(dǎo)出工具：數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為AMDIS可讀的格式（“全掃描”模式的質(zhì)譜圖）。

iDwell 時(shí)間工具：在SIM模式下自動(dòng)分配駐留時(shí)間, 在SIM離子測(cè)量速率和靈敏度之間提供最佳平衡點(diǎn), 而不需考慮每個(gè)時(shí)間段的離子質(zhì)量數(shù)量。

SIM庫(kù)：專門選用 SIM 離子質(zhì)量的內(nèi)置庫(kù), 具有參考強(qiáng)度和化學(xué)化合物 IDs (CAS 號(hào))。

該庫(kù)可由用戶編輯。對(duì)于給定的目標(biāo)化合物, 可以通過幾下鼠標(biāo)點(diǎn)擊從庫(kù)中搜索數(shù)據(jù)。

智能檢測(cè)測(cè)量方法：一些參數(shù)檢查有助于在創(chuàng)建方法的過程中，防止用戶設(shè)置不正確或不兼容的參數(shù)。

SIM向?qū)?/span>：一個(gè)強(qiáng)大的工具，從標(biāo)準(zhǔn)樣品“全掃描”模式下測(cè)量的數(shù)據(jù)一步一步自動(dòng)建立SIM方法。

6.安裝要求

7.體積和重量