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分析天平XS205DU
產品編號： 58960
產品： 分析天平XS205DU 
品牌： 梅特勒
型號： Array
規格： XS205DU
單價： 面議
最小起訂： 1 臺
供貨總量： 10 臺
貨源周期： 現貨
發貨期限： 自買家付款之日起 3 天內發貨
有效期至： 長期有效
最后更新： 2020-12-22 14:49
 
詳細說明

技術指標
量程 雙量程
可讀性 0.01/0.1mg
最大稱量值 81/220g
最大稱量值重復性(s) 0.1mg
10g重復性(s) 0.02mg
線性 ±0.2mg
1/2最大稱量1）四角誤差 0.3mg
靈敏度漂移 0.0004%
靈敏度溫度漂移2） 0.00015%/℃
靈敏度穩定性3） 0.0002%/a
典型稱量時間4） 6s
接口更新速率 23/s
防風罩有效高度(mm) 235
秤盤尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1）按照OIML76標準 2）溫度范圍10 …30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置
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